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OMP60觸發式測頭
用于工件找正和檢測OMP60超小型3D觸發式光學測頭，用于在各種大中型加工中心上進行工件找正和檢測。它使在機輔助時間節省90%之多，并可減少廢品率，降低夾具成本。與所有雷尼紹光學接收器（傳統和新型）兼容，因此
用于工件找正和檢測
OMP60超小型3D觸發式光學測頭，用于在各種大中型加工中心上進行工件找正和檢測。它使在機輔助時間節省90%之多，并可減少廢品率，降低夾具成本。
與所有雷尼紹光學接收器（傳統和新型）兼容，因此用戶可輕松升級現有裝置。
采用調制傳輸功能，具有優異的抗光干擾能力。
360°傳輸范圍。
超小型設計。
各種激活選項和可調節的測力。
1 μm 2σ重復性。
我們現在在這套單元上使用測頭系統已經超過6年，它幫我們降低了成本，節省了時間，并在工序控制和一致性上都有了巨大的進步。
OMP60超小型3D觸發式光學測頭，用于在各種大中型加工中心上進行工件找正和檢測。它使在機輔助時間節省90%之多，并可減少廢品率，降低夾具成本。
與所有雷尼紹光學接收器（傳統和新型）兼容，因此用戶可輕松升級現有裝置。
特性與優點
成熟的運動機構設計。采用調制傳輸功能，具有優異的抗光干擾能力。
360°傳輸范圍。
超小型設計。
各種激活選項和可調節的測力。
1 μm 2σ重復性。
我們現在在這套單元上使用測頭系統已經超過6年，它幫我們降低了成本，節省了時間，并在工序控制和一致性上都有了巨大的進步。
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